一、X-TECH熒光光譜儀的特點
1、鐳射對焦系統
2、CCD高彩色攝像頭
3、FP算法，簡化校正過程
4、測量直徑小可0.1mm，可供選擇的準直器0.1mm,0.2mm,0.3mm,矩形等多種規格
5、多種濾波器靈活應用
6、可同時測量多種鍍層，多4層
7、鍍液分析
8、多種樣品臺可選
9、操作簡單測量準確
二、測量軟件
搭配WINDOWS XP操作系統
測量數據統計分析方便
可自定義模板
三、基本參數配置
TXD100系列
正比計數探測器
1、高計數率，良好度，可測量微小樣品。
2、合金成份常量分析
3、的性價比
1、鐳射對焦系統
2、CCD高彩色攝像頭
3、FP算法，簡化校正過程
4、測量直徑小可0.1mm，可供選擇的準直器0.1mm,0.2mm,0.3mm,矩形等多種規格
5、多種濾波器靈活應用
6、可同時測量多種鍍層，多4層
7、鍍液分析
8、多種樣品臺可選
9、操作簡單測量準確
二、測量軟件
搭配WINDOWS XP操作系統
測量數據統計分析方便
可自定義模板
三、基本參數配置
TXD100系列
正比計數探測器
1、高計數率，良好度，可測量微小樣品。
2、合金成份常量分析
3、的性價比
