技術指標

⒈總頻差：在規定的時間內，由于規定的工作和非工作參數組合而引起的晶體振蕩

器頻率與給定標稱頻率的頻差。

說明：總頻差包括頻率溫度穩定度、頻率溫度準確度、頻率老化率、頻率電源電壓穩

定度和頻率負載穩定度共同造成的頻差。一般只在對短期頻率穩定度關心，而對其他頻

率穩定度指標不嚴格要求的場合采用。例如：精密制導雷達。

⒉頻率溫度穩定度：在標稱電源和負載下，工作在規定溫度范圍內的不帶隱含基準溫度

或帶隱含基準溫度的允許頻偏。

fT=&plun;（fmax-fmin)/(fmax+fmin)

fTref =&plun;MAX[|（fmax-fref)/fref|，|(fmin-fref)/fref|] fT：頻率溫度穩定度

（不帶隱含基準溫度）

fTref：頻率溫度穩定度（帶隱含基準溫度）

fmax：規定溫度范圍內測得的頻率

fmin：規定溫度范圍內測得的頻率

fref：規定基準溫度測得的頻率

說明：采用fTref指標的晶體振蕩器其生產難度要高于采用fT指標的晶體振蕩器，故

fTref指標的晶體振蕩器售價較高。

⒊頻率穩定預熱時間：以晶體振蕩器穩定輸出頻率為基準，從加電到輸出頻率小于規定

頻率允差所需要的時間。

說明：在多數應用中，晶體振蕩器是長期加電的，然而在某些應用中晶體振蕩器需要

頻繁的開機和關機，這時頻率穩定預熱時間指標需要被考慮到（尤其是對于在苛刻環境中使

用的通訊電臺，當要求頻率溫度穩定度≤&plun;0.3ppm(-45℃～85℃），采用OCXO作為本

振，頻率穩定預熱時間將不少于5分鐘，而采用DTCXO要十幾秒鐘）。

⒋頻率老化率：在恒定的環境條件下測量振蕩器頻率時，振蕩器頻率和時間之間的關

系。這種長期頻率漂移是由晶體元件和振蕩器電路元件的緩慢變化造成的，可用規定時限后

的變化率（如&plun;10ppb/天，加電72小時后），或規定的時限內的總頻率變化（如：

&plun;1ppm/（年）和&plun;5ppm/（十年））來表示。

說明：TCXO的頻率老化率為：&plun;0.2ppm～&plun;2ppm（年）和&plun;1ppm～&plun;5ppm（十

年）（除情況，TCXO很少采用每天頻率老化率的指標，因為即使在實驗室的條件下，溫

度變化引起的頻率變化也將大大過溫度補償晶體振蕩器每天的頻率老化，因此這個指標失

去了實際的意義）。OCXO的頻率老化率為：&plun;0.5ppb～&plun;10ppb/天（加電72小時后），&plun;

30ppb～&plun;2ppm（年），&plun;0.3ppm～&plun;3ppm（十年）。

⒌頻率壓控范圍：將頻率控制電壓從基準電壓調到規定的終點電壓，晶體振蕩器頻率的

小峰值改變量。

說明：基準電壓為+2.5V，規定終點電壓為+0.5V和+4.5V，壓控晶體振蕩器在+

0.5V頻率控制電壓時頻率改變量為-110ppm，在+4.5V頻率控制電壓時頻率改變量為+

130ppm，則VCXO電壓控制頻率壓控范圍表示為：≥&plun;100ppm（2.5V&plun;2V）。

⒍壓控頻率響應范圍：當調制頻率變化時，峰值頻偏與調制頻率之間的關系。通常用規

定的調制頻率比規定的調制基準頻率低若干dB表示。

說明：VCXO頻率壓控范圍頻率響應為0～10kHz。

⒎頻率壓控線性：與理想（直線）函數相比的輸出頻率-輸入控制電壓傳輸特性的一種量

度，它以百分數表示整個范圍頻偏的可容許非線性度。

說明：典型的VCXO頻率壓控線性為：≤&plun;10%，≤&plun;20%。簡單的VCXO頻率壓控線性計

算方法為（當頻率壓控性為正性時）：

頻率壓控線性=&plun;（（fmax-fmin)/ f0）×100%

fmax：VCXO在壓控電壓時的輸出頻率

fmin：VCXO在小壓控電壓時的輸出頻率

f0：壓控中心電壓頻率

⒏單邊帶相位噪聲￡（f）：偏離載波f處，一個相位調制邊帶的功率密度與載波功率之

比。