Flat Pack封裝集成電路老化測試夾具(IC測試治具)
該系列夾具適用于FPQ封裝的片狀集成電路及阻容器件的老化、測試、篩選及性試驗作連
接之用。產品廣泛運用于航空航天、、科研院所、電子、通訊.
產品型號及規格;
FP-18J
主要技術指標;
間距;1.27mm 環境溫度;-55℃—+155℃ 接觸電阻;≤0.01歐
工作電壓;DC500V 彈片金層厚度;3umAu:lu(鎳金)
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0514-87881291

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Flat Pack封裝集成電路老化測試夾具(IC測試治具)
該系列夾具適用于FPQ封裝的片狀集成電路及阻容器件的老化、測試、篩選及性試驗作連
接之用。產品廣泛運用于航空航天、、科研院所、電子、通訊.
產品型號及規格;
FP-18J
主要技術指標;
間距;1.27mm 環境溫度;-55℃—+155℃ 接觸電阻;≤0.01歐
工作電壓;DC500V 彈片金層厚度;3umAu:lu(鎳金)