芯片測(cè)試失效分析開(kāi)短路曲線量測(cè)儀_集成電路測(cè)試儀

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儀準(zhǔn)科技（北京）有限公司

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經(jīng)營(yíng)模式：其他

所在地：北京市

主營(yíng)產(chǎn)品：失效分析，可靠性測(cè)試，安全檢測(cè)，fib，x-ray，emmi手動(dòng)探針臺(tái)probe station，激光開(kāi)封機(jī)laser decap，微光顯微鏡emmi，紅外顯微鏡，iv自動(dòng)曲線量測(cè)儀，fib，sem，sat，xray，rie，hast等半導(dǎo)體失效分析設(shè)備及測(cè)試

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iv自動(dòng)曲線量測(cè)儀ic失效分析半導(dǎo)體分析設(shè)備

集成電路失效分析流程中，I/V CURVE的量測(cè)往往是非破壞分析的第二步(外觀檢查排在步)，可見(jiàn)curve量測(cè)的重要性。隨著器件的pin腳數(shù)越來(lái)越多，傳統(tǒng)的curve tracer(多為手動(dòng))沒(méi)有辦法滿(mǎn)足時(shí)效的需求。Advanced推出的art-1 auto curve tracer很好的滿(mǎn)足了客戶(hù)的需求，尤其是在BGA等通訊產(chǎn)品方面，具備安捷倫B1500和keithely4200的便利性。

主要參數(shù)：

1. 高分辨率之I/V量測(cè)范圍,Voltage Measure Range可達(dá) 200mV ~ 200V（需搭配keithly 2400）， Current Measure Range可達(dá)1uA ~ 1A，且測(cè)試Channel可從 64 pin逐步擴(kuò)充至Max.4096 pin，以滿(mǎn)足客戶(hù)多元化之產(chǎn)品測(cè)試需求。

2. 機(jī)臺(tái)主要測(cè)試功能，包括:Open/Short Test、I/V Curve Analysis、Idd Measuring、Powered Leakage (漏電) Test

iv自動(dòng)曲線量測(cè)儀ic失效分析半導(dǎo)體分析設(shè)備

可協(xié)助客戶(hù)解決其產(chǎn)品在DC Fail之電性分析，并節(jié)省客戶(hù)上Functional Tester 之借機(jī)成本及時(shí)間。
3.采用電腦化控制的操作系統(tǒng)，比傳統(tǒng)的Curve Tracer更易于量取I/V data 及產(chǎn)生格式化的report。

4.Windows的操作系統(tǒng)，易學(xué)易懂，而所建立的Device之Pin ignment 可儲(chǔ)存在電腦中，未來(lái)可重復(fù)被使用，比傳統(tǒng)的Switching Matrix更便利省時(shí)。

5.機(jī)臺(tái)可搭配Probe Station及Emmission Microscope做漏電分析。

6.機(jī)臺(tái)本身除了可作產(chǎn)品的失效分析外，還可結(jié)合Auto Handler，做M Production之Open/Short Test，可謂一機(jī)多用。