TESCAN SEM掃描電鏡

TESCAN VEGA 鎢燈絲掃描電鏡（SEM）

掃描電子顯微鏡是一種眾所周知的無損分析技術，它使用電子束分析樣品表面，分析尺度可至納米級。掃描電子顯微鏡可獲得高分辨的高倍圖像，廣泛應用于各個科學和工業(yè)領域。

TESCAN 提供各種樣品室大小和配置的高性能鎢燈絲掃描電子顯微鏡，以滿足特定的分析需求。

TESCAN VEGA 第四代鎢燈絲掃描電子顯微鏡，采用全新的 Essence 電鏡操控軟件系統(tǒng)，將掃描形貌圖像與元素實時分析集成于同一個掃描窗口中。這種組合大大簡化了樣品表面形貌的采集及所含元素的數(shù)據(jù)分析工作，使得全新的第四代 VEGA SEM 成為質(zhì)量控制、故障分析和研究實驗室中常規(guī)材料等檢測提供更高效的分析的解決方案。

適用領域

材料科學：鋼鐵及合金、聚合物及復合材料、土木工程和建筑材料、木材，紡織品及紙張

生命科學：生物醫(yī)學工程、制藥技術、植物和動物科學、環(huán)境和食品科學

地球科學：巖石學 & 礦物學、古生物學、礦物加工、廢物回收

突出特點

* 集成的 TESCAN Essence EDS 分析平臺，在 Essence 電鏡操控軟件的單一窗口中即可實現(xiàn) SEM 成像和元素成分分析。

* TESCAN 采用獨特的無機械光闌設計，采用實時電子束追蹤（In Flight Beam Tracing）的技術，可幫助用戶快速獲得電鏡的良好成像及分析條件。

* 獨特的大視野光路（Wide Field Optics）設計，蕞低至2倍的放大倍數(shù)，無需額外的光學導航攝像頭即可輕松準確的實現(xiàn) SEM 導航。

* SingleVac 模式作為標準配置，為觀測不導電樣品和電子束敏感的樣品提供便利的分析利器。

* 采用 3D 電子束技術（3D Beam Technology ）可獲得實時立體成像。

* 在樣品臺及裝置的樣品運動過程中，Essence 3D防碰撞模塊可以直觀的顯示安裝腔室內(nèi)的探測器及樣品臺的位置信息，提供良好的安全性的保護。

* 真空緩沖節(jié)能單元可顯著縮短機械泵的運行時間，提供環(huán)保、高經(jīng)濟效益的電子顯微鏡。

* 模塊化分析平臺，可選配集成多種類的探測器和附件（如陰極熒光探測器，水冷背散射電子探測器或拉曼光譜儀等）。