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芯片高低溫變溫測試臺是一款針對芯片、光器件變溫性能測試的多功能測試平臺，XYZ軸可任意調節，XY軸調節范圍0-250mm，軸調節范圍0-200mm，控溫精度±0.01℃，控溫范圍-50℃-120℃（非標可定制），觸摸屏控制，友好的人機界面，RS232、RS484遠程控制接口，無噪聲、無振動，升降速率可調。組成部分：半導體冷熱臺、高精度半導體溫度控制器、溫控軟件、水循環系統（選配）。樣品臺尺寸 可根據實際要求定制。常規尺寸：從 40*40mm, 50*50mm, 55*55mm到300mm*300mm。形狀：圓形，方形等可根據實際需要定制。
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