DAGE X-ray

DAGE Quadra 3 X光檢查機

主要檢測：電子元器件、PCBA 電路板內部焊接，短路，氣孔，氣泡，裂紋，及異物檢查。

Quadra 3 可用于高放大倍率下的高質量X射線檢測，實現(xiàn)各類生產應用的質量控制。可檢測各種制造缺陷 ， 包括BGA、QFN和IGBT焊接，PTH填充，界面空洞，元器件開裂和偽造產品。

清晰而易于識別的圖像可快速顯示缺陷。Nordson DAGE的 Aspire FP 探測器由自主設計和制造，專用于電子樣品檢測。

借助Quadra獨特的雙傾斜軸幾何結構，可以快捷方便地找到缺陷。可從各個角度下高放大倍率查看每個細節(jié)，而無需旋轉樣品。

QuadraNT X射線源采用免換燈絲的技術，因此無需定期進行預防性維護工作，從而減少了停機時間和運行成本。

Quadra 3 規(guī)格參數

QuadraNT  X 射線管

類型：密封式透射管

特征分辨率：0.95微米

蕞大功率：10瓦

電壓：30-160千伏

Aspire FP 探測器

分辨率：140萬像素

幀率：10 幀/秒

像素點間距：75 微米

數字圖像處理：16比特

檢測

傾斜視角圖：2 × 70 - 無需旋轉樣品

減振系統(tǒng)：被動

顯示分辨率：94像素/英寸

檢測區(qū)：510 x 445 毫米 (20 x 17.5 英寸)

幾何放大倍率：2000 倍

總放大倍率：7500 倍

樣本重量(標準盤)：5千克(11磅)

顯示器：單，24寸，寬屏擴展圖形陣列，分辨率為 1920 x 1200

系統(tǒng)

尺寸： 1570(寬) x 1500(深) x 1900(高)毫米

系統(tǒng)重量：1950千克 (4300磅)

電源：單相200-230伏(交流)，50/60赫茲，16安