技術參數 參量 數據 說明 泵浦激光 輸出能量，mW >60 脈寬，fs >50 可選20fs型號 波長，nm 760-840 脈沖重復頻率，MHz 50-100 探索其它的脈沖重復頻率 光譜儀(傳輸模式) 光譜范圍，cm-1 6-100 或0.2-3THz 光譜分辨率，GHz >15 70ps的掃描窗口 ，％ ±2 @0.6THz 動力學范圍 >1000:1 電場振幅@0.6THz 掃描范圍，ps 300 探索更長的掃描范圍 主要特點 特性： 光譜范圍0.2-3THz 信噪比1000: 光譜分辯率優于15GHz 光反射系數測量 可選擇的光泵浦THz探針配置 應用： THz傳輸光譜分析 THz反射光譜分析 THz成像 光泵浦THz探針光譜儀 儀器介紹 介紹： 太赫茲和亞太赫茲頻段(100GHz-10THz)正好填補了電磁波譜的毫米波與紅外波譜間的空白，除了太赫茲吸收或反射光譜，生物或其它物體的成像，太赫茲X線斷層攝影術，超快太赫茲探針光譜儀方面是被研究的熱點外，在半導體、醫學及安全生產方面同樣有廣闊的應用前景。 EKSPLA’s太赫茲光譜分析系統對于擴展系統容量到太赫茲頻段的研究者來說是一個非常好的工具。 THz時域光譜分析： 典型的THz時域光譜學系統如圖1，用亞皮秒的太赫茲脈沖透過樣品，再經一段對稱的自由空間后由探測器接收，測量由此產生的電磁場強度隨時間的變化（利用傅立葉變換獲得頻域上幅度和相位的變化量），進而得到樣品的信息。 該系統包括超快泵浦激光，光電導天線THz發射器和探測器，泵浦激光光束導向，伴隨控制器的機械化的延遲線，鎖定放大器和裝有實驗觀察軟件計算機，由計算機來獲取實驗數據。 典型的數據收集的例子如圖2，發射與探測器間沒有放置樣品時探測的THz脈沖波行和它的傅立葉光譜。 通用性： 該系統的設置很容易得到改進。Ekspla提供了四種設備供選擇，分別用于傳輸、反射、成像或泵浦探針探測。基礎(也是簡單的)的設備是用于傳輸探測。以后可以訂購其它光學設備進行系統升級。 THz反射系數： 對于安全應用，像無損材料檢測或細微水痕探測，研究它的反射光譜是很重要的，多種材料在THz范圍的反射率可以用光反射系數測量設備記錄下來。THz光的入射角可以進行30-50度范圍的調整。紅光導向光束有利于THz輻射定位樣品和樣品表面的取向。因為我們的THz發射器提供了極化輸出，系統可以根據垂直或水平極化測量進行配置。 THz泵浦探針實驗： 飛秒激光器的引入為研究半導體中超快過程的非平衡動態力學提供了手段。基于此，光泵浦-光學探針技術的應用非常普遍。在采用光泵浦探針技術的試驗中，樣品一面被超短的強激光脈沖照射，激發出自由電信號，同時一束相對較弱的泵浦信號光從另一面射入，這束THz波改變了樣品的光學性質。與純粹的光學探針技術恰恰相反—研究發現THz泵浦脈沖在半導體的級帶上是非共振的，這就避免了自由電子動力學領域試驗中許多人工的假象干擾，可以放心地直接作為探針應用于光泵浦-光學探針系統。 THz成像： 太赫茲射線能夠深入到許多有機材料內部而不傷害材料，這個特長使太赫茲成像非常適合用來測量生物樣品。樣品的像可以通過光柵掃描獲得，可獲得的圖形分辨率大約1mm。 軟件： 實驗觀測是基于軟件所獲得的數據。該軟件可以用來參照光譜的探測和傳輸系數的計算。得到的數據可以保存在硬盤，之后通過專門的軟件進行分析。分離的有效器件有利于THz系統的裝備，可以控制鎖定放大器和其它的設備。 1.6GHz奔騰4系列的微處理器筆記本電腦可以用來系統控制。 為了比較容易的綜合或修正，我們可以提供實驗觀察源代碼。 THz組件： THz發射器和探測器是任何THz系統的組件。Ekspla生產的THz發射和接收器均集成了低溫環境下生長的GaAs(LT-GaAs)晶體材料光電導天線（含微波傳輸帶）和THz透鏡，安置在X-Y調整架中。半導體中的電子遷移率和誘捕時間這兩個技術指標分別決定了光電導天線在發射器和接收器上的表現。LT-GaAs是適于太赫茲應用的材料之一，因為它有極高的電子遷移率、較快的電信號捕獲時間、很高的擊穿電壓以及高抗性。另外，我們在低溫環境生長GaAs的過程中采用了一種特別的技術，使得光電激發壽命獲得了一個遠寬于正常的可控波譜范圍：從低于100fs 一直到100ps。光電導天線的幾何設計，THz透鏡組的參數的準確選擇和低溫GaAs晶體外延法生長過程選擇哪類材料的附著層，這些都是非常關鍵的因素。我們在保留的帶寬情況下，通過優化還能輸出能以上是太赫茲光譜分析系統的詳細信息，如果您對太赫茲光譜分析系統的價格、廠家、型號、圖片有什么疑問，請聯系我們獲取太赫茲光譜分析系統的新信息。