集40多年的探針輪廓技術(shù)創(chuàng)新于一身，該系統(tǒng)在行業(yè)內(nèi)的表現(xiàn)，以重現(xiàn)性和標(biāo)準(zhǔn)掃描范圍而著稱。它提供各種各樣的配置和附加選項，用于程序化測量、低探針力表征和細(xì)節(jié)分析臺階儀 Dektak 150 表面輪廓儀（探針式）規(guī)格：測試技術(shù)：探針輪廓技術(shù)測試功能：二維表面輪廓測試樣品視場：640*480像素，USB；17 inc 平板顯示器探針傳感器：低慣量傳感器（LIS 3）探針壓力：使用LIS 3傳感器：1至15 mg 使用N-lite傳感器：0.03至15 mg探針選項：探針曲率半徑可選范圍：50 nm至25 um; 高徑比針尖：10 um * 2 um 和200 um*20 um樣品載物臺：手動X/Y/@：100*100 mm, 360度旋轉(zhuǎn)，可手動校平； 可選Y自動移動載物臺，100 mm行程，1um重現(xiàn)性，0.5 um分辨率； 可選X-Y自動移動載物臺，150 mm行程； 1um重現(xiàn)率，0.5 um 分辨率計算機系統(tǒng)：主機使用celeron或者semprom處理器以上是探針輪廓儀（臺階儀）DEKATK150的詳細(xì)信息，如果您對探針輪廓儀（臺階儀）DEKATK150的價格、廠家、型號、圖片有什么疑問，請聯(lián)系我們獲取探針輪廓儀（臺階儀）DEKATK150的新信息。
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